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J-GLOBAL ID：200903092222522851

インサーキット・テスタ

Inventor： デイビッド・テー・クロック ,  ケビン・ダブリュー・カーン ,  ウグル・クリングローグル
Applicant, Patent owner： ヒューレット・パッカード・カンパニー
Agent (1)： 長谷川 次男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993157820
Publication number (International publication number)：1994034714
Application date： Jun. 03, 1993
Publication date： Feb. 10, 1994
Summary：

【要約】【目的】本発明の目的は、集積回路配線基板間にある漂遊容量に無関係に測定できるインサーキツト・テスタを提供することである。【構成】ピンがプリント板に適切に半田付けされているか否かを検出する。10KHz、0.2Vを出力する発振器が使用される。導電電極が集積回路パケージの上面に配置される。その電極は電流測定装置に接続される。その集積回路の他のピンが共通信号帰還路に接続される。その他のピンはー般には、電源または接地ピンが選ばれる。

Claim (excerpt)：

電気素子の接続ピンと、前記電気素子を実装した回路アセンブリの第1ノードとの間の電気的接続を試験する装置であって、前記電気素子の接続ピンに電流を供給するための出力端子と共通信号帰還路とを有する信号手段と、前記回路アセンブリの第1ノードと前記共通信号帰還路との間を電気的に接続する手段と、前記第1ピンの表面に近接配置される表面を有する導電電極と、前記回路アセンブリへの前記第1ピンの接続に関連した容量値に関するパラメータを測定する測定手段とを有するインサーキット・テスタ。

IPC (2)：

G01R 31/28 ,  G01R 31/02

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 特開昭59-104858
  
• 特開平4-309875