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J-GLOBAL ID：200903092226109568

液晶パネルの欠陥画素検査方法及びその装置

Inventor：
田中 義規

About 田中 義規

, 
助則 英智

About 助則 英智

, 
浅田 勝滋

About 浅田 勝滋


Applicant, Patent owner：
富士通株式会社

About 富士通株式会社


Agent (1)： 有我 軍一郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996062943
Publication number (International publication number)：1997257639
Application date： Mar. 19, 1996
Publication date： Oct. 03, 1997
Summary：
【要約】【課題】 光源の光量に影響されず、再現性よく正確な判定結果を得る。【解決手段】 パネル背面に光源を有する液晶パネルの欠陥画素の検査方法において、注目画素の周囲に疑似欠陥画素を配置する第1ステップと、表示信号電圧を調節して前記疑似欠陥画素の輝度を前記注目画素の輝度に合わせる第2ステップと、前記第2ステップで両画素の輝度が一致したときの前記表示信号電圧の値を読み取る第3ステップと、該読み取った値で前記液晶パネルの透過率-液晶電圧特性を参照し前記疑似欠陥画素の透過率を求める第4ステップと、を備える。
Claim (excerpt)：
パネル背面に光源を有する液晶パネルの欠陥画素の検査方法において、注目画素の周囲に疑似欠陥画素を配置する第1ステップと、表示信号電圧を調節して前記疑似欠陥画素の輝度を前記注目画素の輝度に合わせる第2ステップと、前記第2ステップで両画素の輝度が一致したときの前記表示信号電圧の値を読み取る第3ステップと、該読み取った値で前記液晶パネルの透過率-液晶電圧特性を参照し前記疑似欠陥画素の透過率を求める第4ステップと、を備えたことを特徴とする液晶パネルの欠陥画素の検査方法。
IPC (4)：
G01M 11/00 ,  G01R 31/00 ,  G02F 1/13 101 ,  G02F 1/1335 530
FI (4)：
G01M 11/00 T ,  G01R 31/00 ,  G02F 1/13 101 ,  G02F 1/1335 530
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)

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