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J-GLOBAL ID：200903092233267055

微細物体の操作装置および操作方法

Inventor： 畑瀬 貴之
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 岩橋 文雄 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999251143
Publication number (International publication number)：2001071300
Application date： Sep. 06, 1999
Publication date： Mar. 21, 2001
Summary：

【要約】【課題】 光ピンセットによる微細物体の捕捉や移動等の操作を効率よく行うことができる微細物体の操作装置および操作方法を提供すること。【解決手段】 容器1の液体2中に含まれた微細物体3をレンズ12で集光された光の光圧力を利用して捕捉する微細物体の操作方法において、容器1の底面上に密集して存在する多数の微細物体3の中から目的の微細物体3aを探索し、光を集光して形成される捕捉範囲Tの外部(前方)に微細物体3aを位置させた状態でレーザ光を照射して微細物体3aを底面から浮揚させる。そして目的の微細物体3aを捕捉範囲T内に位置決めし、微細物体3aを捕捉する。これにより、密集状態にある微細物体を作業性よく効率よく捕捉することができ、また光ピンセットの捕捉範囲外の光を用いて微細物体の操作を行うので、光ピンセットによる微細物体の作業自由度を高めることができる。

Claim (excerpt)：

微細物体を含む液体を収納した容器を保持する容器保持部と、光を発光する光源と、この光源からの光を集光することにより光圧力によって微細物体の捕捉が可能な捕捉範囲を形成するレンズと、この捕捉範囲を前記容器に対して相対的に移動させる移動手段と、この移動手段を制御することにより前記微細物体を前記捕捉範囲内に位置決めする動作と前記微細物体をこの捕捉範囲外に位置させる動作とを選択的に行わせる制御手段とを備えたことを特徴とする微細物体の操作装置。

IPC (2)：

B81B 7/00 ,  B25J 7/00

FI (2)：

B81B 7/00 ,  B25J 7/00

F-Term (2)：

3F060AA01 ,  3F060BA10

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• XYテーブルの基板検出装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-178089   Applicant：松下電器産業株式会社
• 磁気ヘッド
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-316967   Applicant：ソニー株式会社