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J-GLOBAL ID：200903092260542130
簡易環境雰囲気測定方法及びそのための装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
宇井 正一 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993044125
Publication number (International publication number)：1994117976
Application date： Mar. 04, 1993
Publication date： Apr. 28, 1994
Summary：
【要約】【目的】 ある環境中の特定ガスの長期間の平均的濃度を安価、小型の装置で簡単に精度よく測定できる方法及びそのための装置を提供する。【構成】 金属又はセラミックス又は金属塩を環境雰囲気中に所定期間放置した後、吸着されたガスを分析する。特にNOX は多孔質金属又はセラミックス(遷移金属酸化物)、CO2 は多孔質セラミックス(希土類元素酸化物)、 SO2は塩化銅、塩化銀などの特定の塩化物が選択的吸着性において優れている。このような試験片をケースに収容した試験キット、また試験キットを実用化するための試験キット用保護ケース、傘、強制空気送給装置も開示される。
Claim (excerpt)：
金属又はセラミックス又は金属塩試験片を測定すべき環境雰囲気中に置き、所定時間経過後、該試験片に吸着されたNOX ,CO2 又はSO2 を定量分析して該環境雰囲気中のNOX ,CO2 又はSO2 を検定することを特徴とする環境の測定方法。
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (6)
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