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J-GLOBAL ID：200903092272314702

タイヤの外形状判定方法及び装置

Inventor： 國分 孝夫 ,  後藤 孝広 ,  藤沢 佳孝 ,  奥 雅春
Applicant, Patent owner： 株式会社ブリヂストン
Agent (1)： 中島 淳 (外4名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996322876
Publication number (International publication number)：1998160437
Application date： Dec. 03, 1996
Publication date： Jun. 19, 1998
Summary：

【要約】【課題】 タイヤ表面の欠陥凹凸を特定すると共に、この欠陥凹凸部の大きさを認識し、欠陥度合いを判定する。【解決手段】 発光部からの光ビームの照射方向と、受光部によるタイヤからの反射光の受光方向とには、角度θの差がある。従って、タイヤの表面の凹凸変移量に応じて、基準平面Bからの高さΔhが異なり、かつ反射点(実際に反射するタイヤ表面の反射点Rと、基準平面B上での仮想反射点V)のタイヤ半径方向のオフセット量Δdが生じる。このため、Δh=Δd/tan θが成り立つ。上記オフセット量は、受光部における受光位置の差に相当するため、本来受光すべき位置が既知であれば、上記式を用いることにより、高さの変移量Δhを容易に演算で求めることができる。

Claim (excerpt)：

タイヤ側面に測定点を定め、該測定点に向けて、測定点半径寸法を維持しながらタイヤの全周に亘って、一定光量の光ビームを照射し、該光ビームの照射方向に対して、所定角度θの位置で前記光ビームの反射光を受光することにより、それぞれの測定点における受光位置の変移量に基づいて、タイヤ側面の表面凹凸変移量を求め、この表面変移量に基づいて、欠陥凹凸部を抽出し、この抽出された欠陥凹凸部の位置、大きさ、形状に基づいて、欠陥度合いを判定する、ことを特徴とするタイヤの外形状判定方法。

IPC (3)：

G01B 11/30 ,  B60C 19/00 ,  G01B 11/00

FI (3)：

G01B 11/30 Z ,  B60C 19/00 H ,  G01B 11/00 F

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平2-042306
  
• 特開昭62-249005
  
• タイヤ断面形状測定方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-320516   Applicant：横浜ゴム株式会社