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J-GLOBAL ID：200903092314190510

蛍光X線分析装置およびこれに使用する記録媒体

Inventor： 奥田 和明 ,  井上 稔 ,  河野 久征
Applicant, Patent owner： 理学電機工業株式会社
Agent (1)： 杉本 修司 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000037535
Publication number (International publication number)：2000310602
Application date： Feb. 16, 2000
Publication date： Nov. 07, 2000
Summary：

【要約】【課題】分析試料の測定開始前に、標準試料およびドリフト補正試料のデータ処理パラメータの作成を容易に行うことができる蛍光X線分析装置およびこれに使用する記録媒体を提供する。【解決手段】分析試料の測定開始前に、記録媒体のデータまたは送信されたデータからの標準試料およびドリフト補正試料の試料分析条件の下で標準試料およびドリフト補正試料を測定して、標準試料およびドリフト補正試料のデータ処理パラメータを自動的に作成するので、このデータ処理パラメータの作成を専門知識がなくとも、容易かつ正確に行うことができる。また、本記録媒体に記録された分析アプリケーションを容易に多くの装置に組み込むことができる。

Claim (excerpt)：

分析試料にX線を照射して分析を行う蛍光X線分析装置であって、分析試料に対応した標準試料の標準値、ドリフト補正条件、補正パラメータおよび蛍光X線分析装置の測定条件を含む試料分析条件のデータが記録された記録媒体から前記試料分析条件のデータを読取・記憶する手段、または外部コンピュータから送信された前記試料分析条件のデータを受信・記憶する手段と、前記記憶された試料分析条件に基づいて、前記標準試料および標準試料に対応したドリフト補正試料を測定して、検量線定数およびドリフト補正基準強度を含むデータ処理パラメータと、ファンダメンタルパラメータ感度定数およびドリフト補正基準強度を含むデータ処理パラメータとのいずれか一方を演算し、その結果を記憶するデータ処理パラメータ演算・記憶手段とを備えた蛍光X線分析装置。

F-Term (19)：

2G001AA01 ,  2G001BA04 ,  2G001CA01 ,  2G001EA02 ,  2G001EA06 ,  2G001EA09 ,  2G001FA03 ,  2G001FA06 ,  2G001FA08 ,  2G001FA12 ,  2G001FA17 ,  2G001FA30 ,  2G001GA01 ,  2G001JA05 ,  2G001JA16 ,  2G001KA01 ,  2G001SA01 ,  2G001SA02 ,  2G001SA11