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J-GLOBAL ID:200903092393275585
細胞に発現する表面抗原を迅速に同定するための分析方法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
,
Agent (3):
山本 秀策
, 安村 高明
, 森下 夏樹
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003062391
Publication number (International publication number):2004271336
Application date: Mar. 07, 2003
Publication date: Sep. 30, 2004
Summary:
【課題】細胞に発現する複数の表面抗原を一挙にタイピングし、未知の表面抗原を見出し、既知の表面抗原の発現パターンを調べるための分析方法を提供すること。【解決手段】細胞を分析する方法であって、(a)表面抗原に対する抗体が固定されたプレートを提供する工程;(b)該プレート上の該抗体と、細胞とを、該細胞の表面抗原と該抗体とが特異的な相互作用をするに十分な条件下で接触させる工程;および(c)該抗体と該細胞との相互作用のレベルを分析する工程、を包含する、方法。【選択図】 なし
Claim (excerpt):
細胞を分析する方法であって、
(a)表面抗原に対する抗体が固定されたプレートを提供する工程;
(b)該プレート上の該抗体と、細胞とを、該細胞の表面抗原と該抗体とが特異的な相互作用をするに十分な条件下で接触させる工程;および
(c)該抗体と該細胞との相互作用のレベルを分析する工程、
を包含する、方法。
IPC (2):
FI (3):
G01N33/53 Y
, G01N33/53 D
, G01N37/00 102
F-Term (14):
4B029AA07
, 4B029BB11
, 4B029BB17
, 4B029CC03
, 4B029FA03
, 4B063QA18
, 4B063QQ02
, 4B063QQ08
, 4B063QQ79
, 4B063QQ96
, 4B063QR48
, 4B063QR82
, 4B063QS33
, 4B063QX01
Article cited by the Patent:
Cited by examiner (10)
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