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J-GLOBAL ID：200903092434096283

ガス中の水銀分析方法および装置

Inventor： 星野 宗弘 ,  谷田 幸次 ,  中尾 正三
Applicant, Patent owner： 日本インスツルメンツ株式会社
Agent (1)： 杉本 修司 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999205843
Publication number (International publication number)：2001033434
Application date： Jul. 21, 1999
Publication date： Feb. 09, 2001
Summary：

【要約】【課題】 ゴミ焼却炉等の排ガスのような、塩化第二水銀を含有するガス中の水銀を、正しく分析できるガス中の水銀分析方法およびその装置を提供する。【解決手段】 塩化第二水銀を含有するガス中の水銀を分析する装置1を以下のように構成する。錫の粒子2の表面に塩化第一錫の被膜3を形成してなる還元剤4を還元反応器5内に充填する。還元装置7により、前記ガスを還元反応器5を通過させて、そのとき還元剤4により塩化第二水銀中のHg2+をHg0 に還元する。還元されたHg0 を分析器14で分析する。これにより、ガス中の塩化水素ガスの濃度が低い場合でも、正しく水銀分析を行うことができる。

Claim (excerpt)：

塩化第二水銀を含有するガス中の水銀を分析する方法であって、錫の粒子の表面に塩化第一錫の被膜を形成してなる還元剤を用意し、前記還元剤により前記塩化第二水銀中のHg2+をHg0 に還元したのち分析するガス中の水銀分析方法。

IPC (2)：

G01N 31/00 ,  G01N 21/31

FI (3)：

G01N 31/00 T ,  G01N 31/00 Y ,  G01N 21/31 610 A

F-Term (16)：

2G042AA01 ,  2G042BC11 ,  2G042CA01 ,  2G042CB01 ,  2G042DA03 ,  2G042DA10 ,  2G042EA20 ,  2G042FA05 ,  2G042FB05 ,  2G042HA07 ,  2G059AA01 ,  2G059BB01 ,  2G059CC03 ,  2G059DD03 ,  2G059DD16 ,  2G059KK10

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 特開昭61-050042
  
• 特開昭54-099692
  

Cited by examiner (2)

• 特開昭61-050042
  
• 特開昭54-099692