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J-GLOBAL ID：200903092491000560

非線形光学定数測定法

Inventor： 加藤 美登里 ,  木口 雅史 ,  久米川 奈巳 ,  谷口 彬雄 ,  窪田 重雄
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992191894
Publication number (International publication number)：1994034530
Application date： Jul. 20, 1992
Publication date： Feb. 08, 1994
Summary：

【要約】【目的】 粉末試料を用いても結果が平均粒径のコヒーレンス長に対する相対的大きさや、バルクでの位相整合の可否によらない簡便な評価法を提供すること。【構成】 基本波をプリズムにより全反射せしめ、試料をプリズムに一定圧力以上の力で押しつけ、全反射によるエバネッセント波を用いて、高次高調波を発生せしめ、その発生効率を測定することにより非線形光学定数を評価する。

Claim (excerpt)：

50kg/cm2以上のほぼ一定の圧力で、試料を全反射界面に押さえつけ、全反射によるエバネッセント波を基本波とし、試料から発生する高次高調波を、屈折率の高い媒体を介して観測することを特徴とする非線形光学定数評価法。

IPC (4)：

G01N 21/27 ,  G01M 11/00 ,  G01N 21/63 ,  G02F 1/35