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J-GLOBAL ID：200903092556585463

スピン分布検出装置及び該装置を利用するスピン分布検出方法

Inventor： 譲原 肇
Applicant, Patent owner： 株式会社リコー
Agent (1)： 友松 英爾 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993023673
Publication number (International publication number)：1994213985
Application date： Jan. 19, 1993
Publication date： Aug. 05, 1994
Summary：

【要約】【目的】 本発明の目的は、磁性体、特に強磁性体の原子レベルでの微細なスピン構造を決定することのできる装置、および該装置を利用したスピン分布検出方法の提供。【構成】 導電性と磁性を有する探針、該探針を走査する走査部、該探針と強磁性体間へ電流を流すための電源、および該探針と強磁性体間を流れるトンネル電流のコンダクタンス変化検出部を有することを特徴とする強磁性体のスピン分布検出装置。

Claim (excerpt)：

導電性と磁性を有する探針、該探針を走査する走査部、該探針と強磁性体間へ電流を流すための電源、および該探針と強磁性体間を流れるトンネル電流のコンダクタンス変化検出部を有することを特徴とする強磁性体のスピン分布検出装置。