Pat
J-GLOBAL ID:200903092587512871

ゼータ電位測定装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 京本 直樹 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996256914
Publication number (International publication number):1998104188
Application date: Sep. 27, 1996
Publication date: Apr. 24, 1998
Summary:
【要約】【課題】ゼータ電位の測定時に電極から気泡が発生しやすい状態にある溶液(特に、過酸化水素水を含む溶液)に対し、ゼータ電位を正確に測定すること。【解決手段】ゼータ電位測定装置の測定セルの電極5A,6A近傍に、ろ紙等の気泡遮断膜12-1,12-2を配置し、電極から発生した気泡とモニター粒子を分離、発生した気泡はスリット8-1,8-2から外部に排出する。半導体洗浄で多く用いられている過酸化水素水を含む溶液など気泡が発生しやすい溶液のゼータ電位を正確に測定することが可能となる。
Claim (excerpt):
モニター粒子を懸濁した溶液を収容するキャビティ並びに前記キャビティ内に対向して設けられた正電極及び負電極を備えてなる測定セルを有するゼータ電位測定装置において、前記測定セルが正電極及び負電極のそれぞれ負電極側の近傍及び正電極側の近傍に多孔質膜もしくはイオン交換膜でなる気泡遮断膜を配置する手段を有していることを特徴とするゼータ電位測定装置。
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
  • 流動電位測定装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平6-267781   Applicant:株式会社島津製作所
  • 特開昭63-200052
  • 導電率測定方法
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平6-029675   Applicant:株式会社島津製作所

Return to Previous Page