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J-GLOBAL ID：200903092675835036
偏波特性測定装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
古谷 史旺
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993020213
Publication number (International publication number)：1994229870
Application date： Feb. 08, 1993
Publication date： Aug. 19, 1994
Summary：
【要約】【目的】 より少ない回数の装置構成要素の回転によって偏波特性の測定ができるとともに、広範囲にわたる波長における測定を波長板の取り替えなしに実行しうる偏波特性測定装置を提供する。【構成】 偏光子は、レーザ光源からのレーザ光を入力して直線偏光を出力する。光アダプタは、偏光子に接続された偏波保持単一モード光ファイバを介してその直線偏光を入力し、通常の光ファイバを介して光部品1に供給する。ここで、アクチュエータによって光アダプタを回転して直線偏光をすべらせつつ、光パワーメータで光部品からの出射光のパワーを読み取る。そして、光パワーの最大値と最小値とから偏波特性を評価する。
Claim (excerpt)：
直線偏光を出力する偏光子と、この偏光子に接続された偏波保持単一モード光ファイバと、接続部を介して前記偏波保持単一モード光ファイバの出射光を入力するとともに被測定物に接続された光ファイバと、前記接続部を前記光ファイバを軸として回転させる回転手段と、前記被測定物からの出射光から被測定物の偏波特性を測定する測定手段とを備えた偏波特性測定装置。
IPC (2)：
Patent cited by the Patent：
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