Pat
J-GLOBAL ID：200903092695151222
架空線劣化診断方法及び装置
Inventor：
,
,
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
阿部 功
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991258328
Publication number (International publication number)：1993071928
Application date： Sep. 09, 1991
Publication date： Mar. 23, 1993
Summary：
【要約】【目的】 非接触で架空線の劣化箇所の劣化程度を診断する方法と前記方法を実施する装置を得るにある。【構成】 非接触で架空線の劣化箇所の画像を得、前記画像を基に、架空線径の減肉量、架空線画像の色調を新品時の線径並びに色調値と比較し架空線の劣化度を定量化する架空線劣化度を定量化する架空線劣化診断方法、架空線までの距離を自動的に測定し架空線の画像を入力する撮像機、撮像機を支持する伸縮棹、伸縮制御部、撮像機を平行に移動する駆動部、撮像機から得た画像情報から架空線径の減少量及び色調から架空線の劣化度を判定する劣化度判定部および各部に電力を供給する電源部からなる架空線劣化診断装置。
Claim (excerpt)：
架空線に非接触で、かつ遠隔からの測定によって架空線画像を得、前記架空線画像を基にし、新品時の線径並びに色調値と比較し、架空線径の減肉量及び架空線画像の色調(明度、色相、彩度)によって、架空線の腐食あるいは環境劣化による架空線の劣化度を、定量化することを特徴とする架空線劣化診断方法。
IPC (4)：
G01B 11/08
, G01J 3/46
, G01N 21/89
, H04N 7/18
