試料分析装置

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：杉村暁秀 (外5名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994038505
Publication number (International publication number)：1996201272
Application date： Mar. 09, 1994
Publication date： Aug. 09, 1996
Summary：

【要約】【目的】本発明の目的は、分光分析試料を収容し又は試料と接触するために用いられる新規な複合赤外線透過材料、特に複合IRE、複合透過セル、複合放出セルを提供することにある。【構成】本発明によるITMは第1及び第2の光透過性材料体(11,12)を有し、第2の光透過性材料体(12)は分析期間中第1の光透過性材料(11)と試料との間に位置して試料が第1の材料体(11)と接触するのを阻止する。第2の材料体は、試料に対する強い耐久性、適切な機械的強度、適切な光透過特性を有する。

Claim (excerpt)：

第1及び第2の光透過性材料体(11,12)を有し、試料を赤外線分光分析又は輻射分析する装置において、前記第1の光透過性材料体(11)が、選択された光透過域に亘って赤外線放射を透過させることができる内部光透過特性及び屈折率特性を有すると共に、分光分析又は輻射分析中に化学的劣化又は機械的劣化を受ける材料から成り、前記第2の光透過性材料体(12)が、前記第1の光透過性材料体(11)と光学的に接触すると共に、試料の分光分析又は輻射分析中に試料が前記第1の光透過性材料体(11)と接触するのを防止するように第1の光透過性輻射体と試料との間に位置し、この第2の光透過性材料体が、(a)試料に対して強い化学的耐久性を有し、(b)分光分析中又は輻射分析中に試料が第2の光透過性材料体と接触する際、第1の光透過性材料体が劣化するのを阻止する機械的特性を有し、(c)分光分析又は輻射分析中に、最小の透過損失又は反射損失で前記第1の光透過性材料体から第2の光透過性材料体へ又は第2の光透過性材料体から第1の光透過性材料体へ放射を透過させ得る選択された光透過特性及び屈折率特性を有することを特徴とする試料分析装置。

IPC (2)：

G01N 21/01 , G01N 21/35

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (5)

赤外光学部品及び測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-249782 Applicant：住友電気工業株式会社
特開平4-084738
分光光度計
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平3-301523 Applicant：株式会社日立製作所

Show all

Cited by examiner (5)

赤外光学部品及び測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-249782 Applicant：住友電気工業株式会社
特開平4-084738
分光光度計
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平3-301523 Applicant：株式会社日立製作所

Show all

Return to Previous Page