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J-GLOBAL ID:200903092713942798

計時装置、計時方法、及び測距装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 古谷 史旺
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000382288
Publication number (International publication number):2002181934
Application date: Dec. 15, 2000
Publication date: Jun. 26, 2002
Summary:
【要約】【課題】 高周波数の発信器等を必要とせずにパルス信号の受信タイミングをクロックパルスの発生間隔より短い分解能にて計測する。【解決手段】 レーザ測距装置100は、パルス状のレーザ光を繰り返し照射させるためのパルス発生回路130、半導体レーザ112と、前記レーザ光を受光するためのフォトダイオード122、受信回路150を備える。制御回路160は、受光タイミングをクロックパルスのカウント値に基づいて測定する。レーザ測距装置100は、前記クロックパルスに対するレーザ光の照射タイミングを所定間隔でシフトさせるシフト回路140を備える。
Claim (excerpt):
パルス信号を繰り返し発信させる発信部と、前記パルス信号を受信し、前記パルス信号の受信タイミングをクロックパルスのカウント値に基づいて測定する受信部とを備える計時装置であって、前記発信部が、前記クロックパルスに対する発信タイミングを所定間隔でシフトさせながら前記パルス信号を発信させることを特徴とする計時装置。
IPC (3):
G01S 17/10 ,  G01C 3/06 ,  G04F 10/04
FI (3):
G01S 17/10 ,  G01C 3/06 Z ,  G04F 10/04 A
F-Term (38):
2F085AA06 ,  2F085CC10 ,  2F085EE01 ,  2F085FF04 ,  2F085FF06 ,  2F085GG18 ,  2F085GG19 ,  2F085GG24 ,  2F085GG25 ,  2F085GG27 ,  2F112AD01 ,  2F112BA06 ,  2F112CA06 ,  2F112EA11 ,  2F112EA20 ,  2F112FA03 ,  2F112FA12 ,  2F112FA14 ,  2F112FA41 ,  2F112FA45 ,  2F112GA05 ,  5J084AA05 ,  5J084AC08 ,  5J084AD01 ,  5J084BA04 ,  5J084BA36 ,  5J084BB02 ,  5J084BB04 ,  5J084CA03 ,  5J084CA12 ,  5J084CA19 ,  5J084CA31 ,  5J084CA32 ,  5J084CA34 ,  5J084CA69 ,  5J084DA01 ,  5J084DA08 ,  5J084EA04
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)

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