Pat
J-GLOBAL ID:200903092845712325
光学測定方法、光学測定装置および画像形成装置
Inventor:
,
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
佐藤 正美
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997198373
Publication number (International publication number):1998175330
Application date: Jul. 24, 1997
Publication date: Jun. 30, 1998
Summary:
【要約】【課題】 用紙などの測定対象物の被測定面がレンズ光軸方向に変動する場合でも、その変動に影響されない高精度の測定を行うことができるようにする。【解決手段】 光源41からの光を、レンズ43を介して、または介することなく、紙面37a上の特定の反射領域42に照射する。光電変換素子44を、レンズ43の後側焦点面43bに設置し、紙面37a上の反射領域42からの反射光(散乱光または拡散光を含む)のうちの、所定の角度範囲内に反射する光のみをすべて、レンズ43を介して光電変換素子44で受光する。その受光出力から、紙面37a上に形成された画像の濃度を測定する。光源41からの光をレンズ43を介して紙面37a上に照射する場合には、光源41はレンズ43の後側焦点面43bより後方に配置する。
Claim (excerpt):
互いに相対位置が一定となるように設置された光源、レンズおよび光電変換素子を用いるものであって、前記光源からの光を測定対象物に照射し、この測定対象物からの反射光を前記レンズを介して前記光電変換素子で受光し、この光電変換素子の受光出力から、前記測定対象物に関する特性を測定する方法において、前記レンズの前記光電変換素子側の焦点面に、前記レンズを通過してくる前記測定対象物からの反射光のうちの任意の一部の領域である特定領域を設定して、前記測定対象物から、この特定領域に対応する角度範囲内に反射する光のすべてのみを、前記レンズを介して前記光電変換素子で受光し、この光電変換素子が受光した総光量を、この光電変換素子の出力とすることを特徴とする光学測定方法。
IPC (5):
B41J 2/52
, B41J 29/46
, G01J 1/00
, G01N 21/27
, H04N 1/19
FI (5):
B41J 3/00 A
, B41J 29/46 D
, G01J 1/00 H
, G01N 21/27 A
, H04N 1/04 103 Z
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (10)
-
特開平3-083462
-
特開昭63-016247
-
特開平1-274283
-
コード読取り装置及び原稿読取り装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-186771
Applicant:キヤノン株式会社
-
特開平2-058469
-
特開平4-371076
-
特開昭57-135577
-
特開平4-223760
-
特開昭59-017139
-
特開昭62-012267
Show all
Return to Previous Page