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J-GLOBAL ID:200903092880659925
構築物等の変形状態解析装置とこれに用いるデータレコ ーダ及びデータアナライザ
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
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Agent (1):
澤野 勝文 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997346125
Publication number (International publication number):1999173839
Application date: Dec. 16, 1997
Publication date: Jul. 02, 1999
Summary:
【要約】【課題】現場での作業が極めて簡単で、不慣れな作業者でも短時間で正確に構築物の変形状態を解析するための基礎データを採取できるようにする。【解決手段】構築物等の調査対象物(W) の測定ポイントとなるひび割れ(C) が形成された位置の両側に基準マーカ(M0)と測定用マーカ(M1)を貼り付け、これをデータレコーダ(3) で撮像し、この画像データをデータアナライザ(4) で分析することにより測定用マーカ(M1)に形成された測定点(P1)のX-Y-Z座標が算出される。現場作業としては、各測定ポイントに基準マーカ(M0)及び測定用マーカ(M1)を貼り付けてしまえば、あとは、各マーカ(M0, M1)を撮像するだけで足りるので、極めて簡単で且つ短時間で済む。そして,1カ月〜数カ月ごとに、画像データを取り込み、同一測定点(P1)の座標データを比較することにより、その変位量及び変位方向を知ることができる。
Claim (excerpt):
構築物等の調査対象物(W)に予め設定した測定点(P1) の変位量及び変位方向を測定する構築物等の変形状態解析装置であって、基準点 (P0) と校正点 (Q0) を所定距離だけ離した位置に形成して成る基準マーカ (M0) を調査対象物(W)に固定すると共に、測定点(P1) が形成された測定用マーカ (M1) を前記基準マーカ(M0)から任意の距離だけ離して調査対象物(W)に固定した状態で、少なくとも前記基準点 (P0) ,校正点 (Q0) 及び測定点(P1) を撮像した画像データを記憶媒体(2)に記憶するデータレコーダ(3)と、前記記憶媒体(2)に記憶された画像データに基づいて測定点(P1) の座標データを算出し、同一の測定点(P1) の座標データの経時的変化に基づいてその変位量及び変位方向を解析するデータアナライザ(4)とからなることを特徴とする構築物等の変形状態解析装置。
IPC (3):
G01B 21/32
, G06F 17/00
, G06T 7/00
FI (3):
G01B 21/32
, G06F 15/20 D
, G06F 15/62 415
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (7)
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