測距装置

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：中村稔
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992040739
Publication number (International publication number)：1993215963
Application date： Jan. 31, 1992
Publication date： Aug. 27, 1993
Summary：

【要約】【目的】被写体が近距離位置に居るにもかかわらず無限という測距情報を出力してしまうといったことを確実に防止する。【構成】積分手段24,25からの出力より被写体距離が近距離であることを判別する近距離判別手段28と、該近距離判別手段により被写体距離が近距離であることが判別された場合には、無限判別手段23,28による無限情報を無効とする情報選別手段28とを設け、近距離判別手段にて被写体情報が近距離であることが判別されている場合には、被写体が近距離に位置するために受光手段の遠距離側出力が小さくなって無限判別手段が無限判別を行ったケ-スであるとして、無限判別手段による無限情報を無効とするようにしている。

Claim (excerpt)：

被写体へ向けて光を投射する投光手段と、この投射光の被写体での反射光を受光する受光手段と、該受光手段よりの出力を積分する積分手段と、該積分手段からの出力より被写体距離が無限であることを判別する無限判別手段を備えた測距装置において、被写体距離が近距離であることを判別する近距離判別手段と、該近距離判別手段により被写体距離が近距離であることが判別された場合には、前記無限判別手段による無限情報を無効とする情報選別手段とを設けたことを特徴とする測距装置。

IPC (2)：

G02B 7/32 , G01C 3/06

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

特開昭62-235518
特開昭60-026879
特開昭62-000908

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