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J-GLOBAL ID：200903092900088059

セラミックコーティング寿命推定方法及び余寿命評価システム

Inventor： 中山 真人 ,  和田 克夫 ,  佐藤 実 ,  鹿又 裕喜
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所 ,  東北電力株式会社
Agent (1)： 笹岡 茂 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998090706
Publication number (International publication number)：1999271211
Application date： Mar. 20, 1998
Publication date： Oct. 05, 1999
Summary：

【要約】【課題】 セラミック層及び耐食合金層がコーティングされた高温部材において、セラミックコーティングの寿命を推定し、余寿命を評価することにある。【解決手段】 高温部材にコーティングされたセラミック層及び耐食合金層が高温雰囲気に曝露され、両者の層の界面に経年的に酸化物層が形成される高温機器において、実機高温部材と同仕様でコーティングした試験片(s7)を高温大気中に曝露してセラミック層と耐食合金層の界面に酸化物層を生成し、曝露試験後、この酸化物層の厚さに対するセラミック層のはく離強度を測定し(s8)、その後、数値解析(s5)によって求めた熱応力値(s6)とセラミック層のはく離強度(s9)の大小の比較(s10)から酸化物層がセラミック層のはく離損傷を誘発する限界の厚さを求め(s11)、セラミック層のはく離損傷に対する寿命を推定する(s14)。

Claim (excerpt)：

高温部材にコーティングされたセラミック層及び耐食合金層が高温雰囲気に曝露され、セラミック層と耐食合金層の界面に経年的に酸化物層が形成される高温機器において、実機高温部材と同仕様のセラミック層及び耐食合金層をコーティングした試験片を高温大気中に曝露してセラミック層と耐食合金層の界面に酸化物層を生成し、曝露試験後、この酸化物層の厚さに対するセラミック層のはく離強度を測定し、その後、数値解析によって求めた熱応力値とセラミック層のはく離強度の大小の比較からセラミック層と耐食合金層の界面に経年的に生じる酸化物層がセラミック層のはく離損傷を誘発する限界の厚さを求めることを特徴とするセラミックコーティング寿命推定方法。