測距装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：北村修 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996251073
Publication number (International publication number)：1998096778
Application date： Sep. 24, 1996
Publication date： Apr. 14, 1998
Summary：

【要約】【課題】測距装置において測距精度の向上と測定時間の短縮を図る。【解決手段】測距装置に、測距対象に向けてパルス状の光線を投射する第1測距用光源FLと、測距対象に向けて設定周期の基準信号にて変調された光線を投射する第2測距用光源SLと、前記測距対象からの反射光を検出する受光手段62と、第1測距用光源FLから前記パルス状の光線を投射した後、前記測距対象にて反射された反射光を前記受光手段62が検出するまでの時間を計測する計時手段69と、第2測距用光源SLから出射して、前記測距対象にて反射された反射光による受光手段62の検出信号と、前記基準信号との位相差を検出する位相差検出手段FDと、計時手段69の計時情報から求めた前記測距対象までの絶対的な距離情報と、位相差検出手段FDの検出情報から求めた距離情報とによって、前記測距対象までの距離を演算する距離演算手段DDが設けられている。

Claim (excerpt)：

測距対象に向けてパルス状の光線を投射する第1測距用光源(FL)と、測距対象に向けて設定周期の基準信号にて変調された光線を投射する第2測距用光源(SL)と、前記測距対象からの反射光を検出する受光手段(62)と、前記第1測距用光源(FL)から前記パルス状の光線を投射した後、前記測距対象にて反射された反射光を前記受光手段(62)が検出するまでの時間を計測する計時手段(69)と、前記第2測距用光源(SL)から出射して、前記測距対象にて反射された反射光による前記受光手段(62)の検出信号と、前記基準信号との位相差を検出する位相差検出手段(FD)と、前記計時手段(69)の計時情報から求めた前記測距対象までの絶対的な距離情報と、前記位相差検出手段(FD)の検出情報から求めた距離情報とによって、前記測距対象までの距離を演算する距離演算手段(DD)が設けられた測距装置。

IPC (2)：

G01S 17/08 , A01B 69/00 303

FI (2)：

G01S 17/08 , A01B 69/00 303 K

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

測距装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-164368 Applicant：日本電気株式会社
物体検出装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-271074 Applicant：東洋電機株式会社
位相比較処理回路および光波距離計
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-223115 Applicant：株式会社キーエンス

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