雲微物理量導出システム,雲微物理量導出処理方法およびそのプログラム記録媒体

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：小笠原吉義
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000311658
Publication number (International publication number)：2002122667
Application date： Oct. 12, 2000
Publication date： Apr. 26, 2002
Summary：

【要約】【課題】雲を構成している雲粒子の微物理量をリモートセンシングにより導出する。【解決手段】雲レーダとライダによる観測データから,雲の存在する層ごとに一方の観測値を満たす氷水量および氷粒子の有効半径の組を計算し,その中で他方の観測値に一致するものを算出することにより,その層における氷水量および氷粒子の有効半径を決定し,計算した雲の層での減衰補正を,上位の層のレーダ観測データおよびライダ観測データに対して行い,第i番目(i=1,2,...)の雲の層での氷水量および氷粒子の有効半径を導出して第i+1番目のデータに対して減衰補正を行う処理を,最初に検出した雲の層から雲頂まで繰り返す。

Claim (excerpt)：

雲レーダによる観測によって得られたレーダ観測データと,同じ雲に対してライダによる観測によって得られたライダ観測データとから,雲粒子の微物理量を導出する雲微物理量導出システムであって,前記レーダ観測データと前記ライダ観測データとを入力し,時間分解能および鉛直分解能が一致するようにデータを補間するデータ補間部と,前記観測データから雲の存在する層を決定する雲の層決定部と,決定した各時刻の雲底においてレーダ観測データまたはライダ観測データの一方の観測値を満たす氷水量および雲粒子の有効半径の組を計算し,その中でレーダ観測データまたはライダ観測データの他方の観測値に一致するものを算出することにより,その層における氷水量および雲粒子の有効半径を決定する氷水量・有効半径計算部と,前記雲の層での減衰補正を,それより上位の層のレーダ観測データおよびライダ観測データに対して行う減衰補正部とを備え,第i番目(i=1,2,...)の雲の層での氷水量および雲粒子の有効半径を導出し,第i+1番目の層の観測データに対して減衰補正を行う処理を雲頂まで繰り返すことを特徴とする雲微物理量導出システム。

IPC (2)：

G01S 13/95 , G01W 1/10

FI (2)：

G01S 13/95 , G01W 1/10 T

F-Term (9)：

5J070AB01 , 5J070AB24 , 5J070AC03 , 5J070AE13 , 5J070AF01 , 5J070AH31 , 5J070AK13 , 5J070AK22 , 5J070BD06

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (5)

気流検出方法およびレーザレーダ装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-169466 Applicant：三菱電機株式会社
衛星搭載撮像装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-306636 Applicant：三菱電機株式会社
気象レーダ装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-180445 Applicant：三菱電機株式会社

Show all

Return to Previous Page