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J-GLOBAL ID：200903092980833868
ICリード曲り測定方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
高橋 光男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993052915
Publication number (International publication number)：1994241752
Application date： Feb. 18, 1993
Publication date： Sep. 02, 1994
Summary：
【要約】【目的】 計算時間を短縮し測定時間の短縮を図るとともに計算コストの低減を図ったICリードの曲り測定方法を提供する。【構成】 IC1の側面に突出する多数のリード5を介して該ICを基板上に搭載する場合における基板表面と各リード接地部間の距離を求めるICリード曲り測定方法において、前記多数のリードのうち3本のリードPM2、PM3、PM4により形成される三角形を含む仮想平面を、ICの重心PWが前記三角形内に含まれかつ前記3本以外の全てのリードが該仮想平面に達しない条件の下で定め、該仮想平面と各リード接地部間の距離を検出することにより各リード5の高さを検査する。
Claim (excerpt)：
ICの側面に突出する多数のリードを介して該ICを基板上に搭載する場合における基板表面と各リード接地部間の距離を求めるICリード曲り測定方法において、前記多数のリードのうち3本のリードにより形成される三角形を含む仮想平面を、ICの重心が前記三角形内に含まれかつ前記3本以外の全てのリードが該仮想平面に達しない条件の下で定め、該仮想平面と各リード接地部間の距離を検出することにより各リードの高さを検査することを特徴とするICリード曲り測定方法。
IPC (6)：
G01B 11/24
, G01B 11/02
, G01B 21/20
, G01N 21/88
, H01L 21/66
, H01L 23/50
