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J-GLOBAL ID:200903093129005371

薄膜密着強度評価方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 萼 経夫 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1994230418
Publication number (International publication number):1996075635
Application date: Aug. 31, 1994
Publication date: Mar. 22, 1996
Summary:
【要約】【目的】 薄膜密着強度の評価方法を提供する。【構成】 薄膜(メッキ層)との密着強度が評価されるアルミニウム素材11上の第一の部分(前処理部12が形成される部分)に連なる第二の部分を、第一の部分よりは薄膜の密着強度が低く形成される状態となし、第一の部分と第二の部分にまたがって複合メッキ層13を形成し、その上に補強メッキ層として銅メッキ層14を形成し、第二の部分の複合メッキ層13を剥離し、次いで第二の部分から剥離したメッキ層を引っ張って第一の部分のメッキ層を剥離することにより、アルミニウム素材11上の第一の部分と複合メッキ層13との密着強度を評価する。【効果】 素材と薄膜との密着強度を容易に且つ定量的で正確に評価することができる。
Claim (excerpt):
薄膜との密着強度が評価される素材上の第一の部分に連なる第二の部分を、第一の部分よりは薄膜の密着強度が低く形成される状態となし、第一の部分と第二の部分にまたがって薄膜を形成し、第二の部分の薄膜を剥離し、次いで第二の部分から剥離した薄膜を引っ張って第一の部分の薄膜を剥離することにより、素材上の第一の部分と薄膜との密着強度を評価することを特徴とする薄膜密着強度評価方法。
IPC (2):
G01N 19/04 ,  G01N 33/20

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