光ファイバ歪み計測方法およびその装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：谷義一 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001349360
Publication number (International publication number)：2003148924
Application date： Nov. 14, 2001
Publication date： May. 21, 2003
Summary：

【要約】【課題】異なる2つの観測値を用いて、対応するローレンツ型パワースペクトルを推定することにより、光ファイバの長さ方向の歪み分布を求める。【解決手段】ファイバの2つの歪みが混在する測定区間において、異なる測定タイミングで観測した2つの観測波形を取得する観測ステップ(S1)と、観測ステップで取得した一方の観測波形y1iと、他方の観測波形y2iに実数値λを乗じた値との差分波形φiを求める第1演算ステップ(S2)と、第1演算ステップで求めた差分波形φiから単一のローレンツ型波形に分離するために実数値λ1,λ2を求める第2演算ステップ(S3)と、第2演算ステップで求めた実数値λ1,λ2により単一のローレンツ型波形に分離して、2つの歪みに対応するローレンツ型パワースペクトルを推定する推定ステップ(S4)とを備えた。

Claim (excerpt)：

センサとして用いる光ファイバに光パルスを入射し、該光パルスにより発生した後方散乱光の一つであるブリルアン散乱光のパワースペクトルを計測し、該パワースペクトルのピーク値と、該ピーク値を与える中心周波数と全半値幅とを決定して、前記光ファイバに発生している長さ方向の歪み分布を求める光ファイバ歪み計測方法において、前記光ファイバの2つの歪みが混在する測定区間において、異なる測定タイミングでパワースペクトルを観測した2つの観測波形を取得する観測ステップと、該観測ステップで取得した一方の観測波形と、他方の観測波形に実数値を乗じた値との差分波形を求める第1演算ステップと、該第1演算ステップで求めた前記差分波形から単一のローレンツ型波形に分離するために前記実数値を求める第2演算ステップと、該第2演算ステップで求めた前記実数値により単一のローレンツ型波形に分離して、前記2つの歪みに対応するローレンツ型パワースペクトルを推定する推定ステップとを備えることを特徴とする光ファイバ歪み計測方法。

IPC (4)：

G01B 11/16 , G01D 5/26 , G01L 1/24 , G01M 11/00

FI (4)：

G01B 11/16 Z , G01D 5/26 D , G01L 1/24 A , G01M 11/00 U

F-Term (13)：

2F065AA02 , 2F065AA65 , 2F065FF32 , 2F065FF42 , 2F065LL02 , 2F065QQ18 , 2F065QQ42 , 2F065QQ44 , 2F103BA08 , 2F103BA33 , 2F103CA07 , 2F103EC09 , 2G086DD05

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