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J-GLOBAL ID：200903093242743281

円中心位置計測方法

Inventor： 横山 晴彦 ,  鈴木 規之
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 石原 勝
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992196953
Publication number (International publication number)：1994044399
Application date： Jul. 23, 1992
Publication date： Feb. 18, 1994
Summary：

【要約】【目的】 円周上にゴミや欠けがある場合にそれらの影響を取り除き、高精度に円の中心位置及び半径を求める。【構成】 二次元の画像データからエッジ点を検出した後、エッジ点の集合を区間分割し、区間分割した各エッジ点の集合について円中心を測定し、多数決で円中心を決定する。

Claim (excerpt)：

二次元の画像データからエッジ点を検出する工程と、エッジ点の集合を区間分割する工程と、各区間内のエッジ点の集合について平均四乗誤差最小化法によって円弧近似を行い円中心の位置と半径を推定する工程と、推定された円中心位置及び半径について最も密に集まっている領域を計算する工程と、この領域内の円中心位置及び半径の平均をもって円中心位置と半径とする工程から成ることを特徴とする円中心位置計測方法。