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J-GLOBAL ID：200903093304829293

超音波表面探傷装置及びその方法

Inventor： 大久保 寛之 ,  鈴木 智也
Applicant, Patent owner： 住友金属工業株式会社
Agent (1)： 下田 容一郎 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994208977
Publication number (International publication number)：1996075707
Application date： Sep. 01, 1994
Publication date： Mar. 22, 1996
Summary：

【要約】【構成】 ワークWに表面波を送り、疵があった場合にはこの疵による反射波を受信するところの送受信用探触子2と、直進波を受信する受信専用探触子3と、これら送受信用探触子2と受信専用探触子3の受信信号を入力し、反射波の有無と直進波の強弱でワークW表面ので疵の有無と異物の有無を識別する演算器5とからなる超音波表面探傷装置1。【効果】 疵の有無のみならず、疵と異物の識別が可能であり、疵探傷精度が向上する。

Claim (excerpt)：

円筒物や平板などのワークの表面疵を超音波表面波で探傷する超音波表面探傷装置であって、この超音波表面探傷装置は、前記ワークに表面波を送り、疵があった場合にはこの疵による反射波を受信するところの送受信用探触子と、前記送受信用探触子から離れた位置にワーク上に配置され、前記表面波から反射波を除いたところの直進波を受信する受信専用探触子と、これら送受信用探触子と受信専用探触子の受信信号を入力し、前記反射波の有無と直進波の強弱により疵の有無と異物の有無を識別する演算器とからなることを特徴とした超音波表面探傷装置。