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J-GLOBAL ID：200903093328343332

露出制御回路を有するX線検査装置

Inventor： ファン ヴォエジク,ヨハネス テオドルス マリア ,  ファン トゥヴィスト,パウルス ヘンリクス フェリス マリア
Applicant, Patent owner： フィリップス エレクトロニクス エヌ ベー
Agent (1)： 伊東 忠彦 (外1名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：1996520320
Publication number (International publication number)：1997509787
Application date： Nov. 21, 1995
Publication date： Sep. 30, 1997
Summary：

【要約】X線検査装置はX線源(1)の調節用の制御信号を供給する露出制御回路(20)よりなる。露出制御回路(20)は過剰露出の生じないX線画像の領域から制御信号を決定する。このため、露出制御回路は、電子画像信号の信号レベルとX線装置の設定、例えば高電圧及びX線源の陽極電流に依存する上限値とを比較して、X線検出器(5,8,7)によりX線画像から形成される測定部分を電子画像信号から決定する。上限値は好ましくは過剰露出レベルと安全余裕との差に等しい。安全余裕は露出制御回路を、X線源(1)により発生するX線ビーム(3)の強度及びエネルギの小さな変動に対して敏感ではないようにする。

Claim (excerpt)：

物体(2)のX線画像を形成するためにX線ビーム(3)を放出するX線源(1)と、 X線画像を検出し、電子画像信号に変換するX線検出器(5,8,7)と、 X線源(1)を調節するために電子画像信号から制御信号を形成する露出制御回路(20)とよりなり、 露出制御回路(20)は、明るさの値が主に上限値より低いX線画像の非過剰露出領域を決定して非過剰露出領域から制御信号を抽出するように構成されることを特徴とするX線検査装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開平1-107738
  
• 特開昭58-075800
  
• 特開昭57-202700
  
• 特開昭59-073898