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J-GLOBAL ID：200903093374862107

光学素子およびその光学検査方法

Inventor： 原 肇
Applicant, Patent owner： 日本石油化学株式会社
Agent (1)： 前島 肇
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996301179
Publication number (International publication number)：1998133018
Application date： Oct. 25, 1996
Publication date： May. 22, 1998
Summary：

【要約】【課題】 保護フィルムおよび/または剥離フィルムを積層したままの状態で製造工程中の検査が可能な光学素子を提供する。【解決手段】 光学補償板3、偏光板など共に、光学的等方性保護フィルム2および/または光学的等方性剥離フィルム5を用いることを特徴とする光学素子1a、およびこれらの光学的等方性のフィルムを積層したまま光学的欠陥を検査することを特徴とする光学検査方法。

Claim (excerpt)：

光学補償板および光学的等方性保護フィルムを付与した積層フィルムからなることを特徴とする光学素子。

IPC (3)：

G02B 5/30 ,  G01N 21/88 ,  G02F 1/13

FI (3)：

G02B 5/30 ,  G01N 21/88 Z ,  G02F 1/13