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J-GLOBAL ID:200903093431535967

研磨用砥粒及び研磨用組成物

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 渡辺 一雄
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996130523
Publication number (International publication number):1997296161
Application date: Apr. 30, 1996
Publication date: Nov. 18, 1997
Summary:
【要約】【課題】 半導体基板、メモリーハードディスク用基板、ガラス、半導体デバイス等の研磨において、高い研磨速度と高い平坦性、無傷性とを同時達成可能で、高純度、かつ低価格な研磨剤を提供する。【解決手段】 水の存在下で熱処理したフュームドシリカ、これと水とを主成分とする研磨用組成物、または同組成物に更に研磨促進剤を添加した研磨用組成物。
Claim (excerpt):
フュームドシリカを、水の存在下、30〜200°Cの温度で熱処理してなることを特徴とする研磨用砥粒。
IPC (6):
C09K 3/14 550 ,  C09K 3/14 ,  B24D 3/00 320 ,  B24D 3/12 ,  G11B 5/84 ,  H01L 21/304 321
FI (7):
C09K 3/14 550 D ,  C09K 3/14 550 H ,  C09K 3/14 550 L ,  B24D 3/00 320 A ,  B24D 3/12 ,  G11B 5/84 A ,  H01L 21/304 321 P
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
  • 特開昭62-030333
Cited by examiner (1)
  • 特開昭62-030333

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