画像評価方法及び装置

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：渡辺望稔
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999080095
Publication number (International publication number)：2000275757
Application date： Mar. 24, 1999
Publication date： Oct. 06, 2000
Summary：

【要約】【課題】画像異常の判定をするための基準を定量化し、客観的な評価を効率的に行う。【解決手段】画像の異常の判定を行う画像評価方法であって、予め、所定の画像データから抽出した所定の特徴量を用いて、マハラノビス空間を設定し、評価対象画像から読み取った画像データを用いて前記マハラノビス空間におけるマハラノビス距離を算出し、該算出されたマハラノビス距離を所定の閾値と比較することにより前記評価対象画像の異常の判定を行うことを特徴とする画像評価方法および該方法を実施する装置を提供することにより前記課題を解決する。

Claim (excerpt)：

画像の異常の判定を行う画像評価方法であって、予め、所定の画像データから抽出した所定の特徴量を用いて、マハラノビス空間を設定し、評価対象画像から読み取った画像データを用いて前記マハラノビス空間におけるマハラノビス距離を算出し、該算出されたマハラノビス距離を所定の閾値と比較することにより前記評価対象画像の異常の判定を行うことを特徴とする画像評価方法。

F-Term (1)：

2H013AC03

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

異常陰影候補検出方法および装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-230529 Applicant：富士写真フイルム株式会社
感光材料の処理状態の判定方法及び補正方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-350447 Applicant：富士写真フイルム株式会社
塗装システム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-201967 Applicant：松下電工株式会社

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