Pat
J-GLOBAL ID:200903093485224525
金属中酸化物系介在物の粒度分布測定方法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
小杉 佳男 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997112611
Publication number (International publication number):1998300659
Application date: Apr. 30, 1997
Publication date: Nov. 13, 1998
Summary:
【要約】【課題】本発明は、スパーク放電式発光分光分析方法を用い、金属中に分散して存在する介在物の粒度分布を従来より迅速、且つ正確に測定する方法を提供することを目的としている。【解決手段】不活性ガス雰囲気中で金属試料と対電極との間で多数回のスパーク放電を行ない、試料重量の減少量測定で放電1回あたりの蒸発量を定めておくと共に、金属試料中に存在する酸化物系介在物の形成元素の固有スペクトル線強度から当該元素の濃度を求め、該濃度と前記蒸発量の積から該放電で蒸発した介在物重量を算出し、該重量を前記介在物の密度で徐すことによって1個の球形介在物の体積としてから粒径に換算し、この操作を多数回放電で繰り返して前記試料中に存在する酸化物系介在物の粒度分布を求める。
Claim (excerpt):
不活性ガス雰囲気中で金属試料と対電極との間で多数回のスパーク放電を行ない、試料重量の減少量測定で放電1回あたりの蒸発量を定めておくと共に、金属試料中に存在する酸化物系介在物の形成元素の固有スペクトル線強度から当該元素の濃度を求め、該濃度と前記蒸発量の積から該放電で蒸発した介在物重量を算出し、該重量を前記介在物の密度で徐すことによって1個の球形介在物の体積としてから粒径に換算し、この操作を多数回放電で繰り返して前記試料中に存在する酸化物系介在物の粒度分布を求めるに際して、各放電で得た発光スペクトル線の中から、酸化物系介在物形成元素の固有スペクトル線とマトリクス金属元素の固有スペクトル線を選択した上で両者の強度比mi を多数求め、予め定めてある多数回放電にわたっての該強度比mi の統計的中央値MC との差を演算し、この差を予め設定してある検量線に照合して、前記当該元素の濃度を求めることを特徴とする金属中酸化物系介在物の粒度分布測定方法。
IPC (2):
FI (2):
G01N 15/02 D
, G01N 21/67 Z
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (6)
-
特開平4-005550
-
鉄鋼中のアルミナの粒度測定方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-024501
Applicant:日本鋼管株式会社
-
金属中介在物の粒度分布測定方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-191985
Applicant:川崎製鉄株式会社
-
発光分光分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-286236
Applicant:株式会社島津製作所
-
発光分光分析方法およびその装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-068464
Applicant:株式会社島津製作所
-
特開昭57-069231
Show all
Return to Previous Page