Pat
J-GLOBAL ID:200903093497794580

超音波検査方法及び装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 遠山 勉 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999184329
Publication number (International publication number):2001013114
Application date: Jun. 29, 1999
Publication date: Jan. 19, 2001
Summary:
【要約】【課題】欠陥の板面方向の位置及び板厚方向の位置を容易に且つ高精度に検出することが可能な超音波検査方法及び装置を提供する。【解決手段】被検査物2に超音波を入射し被検査物2の不連続部で反射された超音波の反射エコーを検出する反射エコー検出手段10と、被検査物2に超音波を入射し不連続部で回折した超音波を検出する回折波検出手段11とを有し、反射エコー検出手段10と回折波検出手段11とを一体的に構成して、同一の検査部分3に沿って同時に移動させることを特徴とする。
Claim (excerpt):
被検査物に超音波を入射し前記被検査物の不連続部で反射された前記超音波の反射エコーを検出する反射エコー検出工程と、前記被検査物に超音波を入射し前記不連続部からの回折波を検出する回折波検出工程とを有し、前記反射エコー検出工程と前記回折波検出工程とを同時に行うことを特徴とする超音波検査方法。
F-Term (13):
2G047AB07 ,  2G047BA03 ,  2G047BC02 ,  2G047BC07 ,  2G047EA09 ,  2G047EA14 ,  2G047GG19 ,  2G047GG30 ,  2G047GG41 ,  2G047GH03 ,  2G047GH04 ,  2G047GH06 ,  2G047GH20
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1) Cited by examiner (1)

Return to Previous Page