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J-GLOBAL ID：200903093503031322

バツテリパツク及びその制御方法

Inventor： 江口 安仁
Applicant, Patent owner： ソニー株式会社
Agent (1)： 田辺 恵基
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996181386
Publication number (International publication number)：1998014122
Application date： Jun. 21, 1996
Publication date： Jan. 16, 1998
Summary：

【要約】【課題】バツテリセルの誤制御を未然にかつ精度良く防止し得るバツテリパツク及びその制御方法を実現し難かつた。【解決手段】バツテリ部の端子電圧値又はその所定比率による分圧電圧値を検出する第2の電圧検出回路を設け、第1の電圧検出回路により検出された各バツテリセルの端子電圧値を順次加算することにより得られる計算上のバツテリ部の端子電圧値又はその所定比率による分圧電圧値でなる第1の電圧値と、第2の電圧検出回路により検出された測定上のバツテリ部の端子電圧値又はその所定比率による分圧電圧値でなる第2の電圧値とに基づいてバツテリセルの過充放電を防止する所定の処理を行うようにしたことにより、バツテリセルの誤制御を未然にかつ精度良く防止し得るバツテリパツク及びその制御方法を実現できる。

Claim (excerpt)：

複数のバツテリセルからなるバツテリ部と、上記バツテリ部の各上記バツテリセルの端子電圧値をそれぞれ検出する第1の電圧検出回路と、上記バツテリ部の端子電圧値又は当該端子電圧値の所定比率による分圧電圧値を検出する第2の電圧検出回路と、上記第1の電圧検出回路により検出された各上記バツテリセルの端子電圧値を順次加算することにより得られる上記バツテリ部の端子電圧値又は当該端子電圧値の上記所定比率による分圧電圧値でなる計算上の第1の電圧値と、上記第2の電圧検出回路により検出された上記バツテリ部の端子電圧値又は当該端子電圧値の上記所定比率による分圧電圧値でなる測定上の第2の電圧値とを比較し、上記第1及び第2の電圧値の差が所定の閾値を越えた場合に上記バツテリセルの過充放電を防止する所定の処理を行う制御手段とを具えることを特徴とするバツテリパツク。

IPC (4)：

H02J 7/02 ,  H01M 2/10 ,  H01M 10/44 ,  H02J 7/10

FI (4)：

H02J 7/02 H ,  H01M 2/10 E ,  H01M 10/44 Q ,  H02J 7/10 B