Pat

J-GLOBAL ID：200903093524178218

加工監視装置

Inventor： 西川 和則 ,  川口 桂司
Applicant, Patent owner： トーヨーエイテック株式会社
Agent (1)： 青山 葆 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993125771
Publication number (International publication number)：1994335843
Application date： May. 27, 1993
Publication date： Dec. 06, 1994
Summary：

【要約】【目的】 迅速に適応制御を行う。【構成】 加工中における加工抵抗、加工寸法変化、切込位置、切込速度等の加工データをリアルタイムでサンプリングするサンプリング手段と、加工データの基準パターンを記憶する記憶手段14と、サンプリング手段によりサンプリングされる各加工データを、記憶手段14に記憶された基準パターンと比較可能な状態で表示する表示手段13と、該表示手段13で表示される加工データのパターンを見て、あるいは経験に基づいて、オペレータが最良と判断するパターンを基準パターンとして手動で設定して記憶手段14に記憶させる設定手段15とを備えた。なお、サンプリング手段でサンプリングされる加工データを記憶手段14に記憶された加工データの基準パターンと比較して最適な加工条件を出力する適応制御部を備えるようにしてもよい。

Claim (excerpt)：

加工中における加工抵抗、加工寸法変化、切込位置、切込速度等の加工データをリアルタイムでサンプリングするサンプリング手段と、加工データの基準パターンを記憶する記憶手段と、前記サンプリング手段によりサンプリングされる各加工データを、前記記憶手段に記憶された基準パターンと比較可能な状態で表示する表示手段と、該表示手段で表示される加工データのパターンを見て、あるいは経験に基づいて、オペレータが最良と判断するパターンを基準パターンとして手動で設定して前記記憶手段に記憶させる設定手段と、を備えたことを特徴とする加工監視装置。

IPC (3)：

B23Q 15/12 ,  B23Q 17/00 ,  B23Q 17/09