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J-GLOBAL ID：200903093578211318

放射線検査装置

Inventor： 藤井 正司 ,  宇山 喜一郎 ,  西出 明彦 ,  本山 正史 ,  吉田 雅也 ,  山本 輝夫
Applicant, Patent owner： 東芝エフエーシステムエンジニアリング株式会社
Agent (1)： 三好 秀和 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996108052
Publication number (International publication number)：1997292351
Application date： Apr. 26, 1996
Publication date： Nov. 11, 1997
Summary：

【要約】【課題】 精度良く良品と不良品の仕分けが可能な放射線検査装置を提供する。【解決手段】 搬送手段3により搬送中の被検体6に放射線発生手段1から放射線を照射して放射線検出手段2で透過放射線を検出して放射線検出信号を生成し、該放射線検出信号に基づいて画像処理手段で被検体6の画像を処理し、当該被検体中に予め定められた特徴点を特徴点認識手段により認識した場合に、当該被検体を前記搬送手段3から除去する除去信号を発生する除去信号発生手段を備えた放射線検査装置において、被検体を除去する位置(排除位置P)を指定する除去位置指定手段を備え、特徴点認識手段が被検体中に特徴点を認識した場合に、除去位置指定手段で指定した位置に当該被検体が到達したときに除去信号発生手段から除去信号を発生するようにした。

Claim (excerpt)：

搬送手段により搬送中の被検体に放射線発生手段から放射線を照射して放射線検出手段で透過放射線を検出して放射線検出信号を生成し、該放射線検出信号に基づいて画像処理手段で被検体の画像を処理し、当該被検体中に予め定められた特徴点を特徴点認識手段により認識した場合に、当該被検体を前記搬送手段から除去する除去信号を発生する除去信号発生手段を備えた放射線検査装置において、前記被検体を除去する位置を指定する除去位置指定手段を備え、前記特徴点認識手段が被検体中に特徴点を認識した場合に、前記除去位置指定手段で指定した位置に当該被検体が到達したときに前記除去信号発生手段から除去信号を発生するようにしたことを特徴とする放射線検査装置。

IPC (2)：

G01N 23/04 ,  G06T 7/00

FI (2)：

G01N 23/04 ,  G06F 15/62 400

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

• 特開昭62-075239
  
• 特開昭63-201589
  
• 鋼片の表面欠陥検出方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-038259   Applicant：新日本製鐵株式会社
• 特開昭62-075239
  
• 特開昭63-201589