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J-GLOBAL ID:200903093591356880

撮像素子を用いた測距装置および測距方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 倉田 政彦
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002205165
Publication number (International publication number):2004045304
Application date: Jul. 15, 2002
Publication date: Feb. 12, 2004
Summary:
【課題】一般的なCCD撮像素子の制御方法を工夫することで、実質的に同期積分をしているのと同じような動作を実現可能とし、従来、特殊な構造の撮像素子を必要としていた光波測距を一般的なCCD撮像素子を用いて安価に実現する。【解決手段】複数の感光部を半導体基板上に1次元または2次元的に配列され、前記半導体基板への電圧印加により前記各感光部の感度を制御可能な構造を有する撮像素子4と、強度変調された光の変調信号に同期して前記撮像素子4の半導体基板に前記各感光部の感度を変調せしめる電圧を印加する感度制御部5とを有する構成とし、強度変調された照射光に同期して感光部の感度を可変とすることで光波測距を実現する。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
複数の感光部を半導体基板上に1次元または2次元的に配列され、前記半導体基板への電圧印加により前記各感光部の感度を制御可能な構造を有する撮像素子と、強度変調された光の変調信号に同期して前記撮像素子の半導体基板に前記各感光部の感度を変調せしめる電圧を印加する感度制御部とを有することを特徴とする撮像素子を用いた測距装置。
IPC (4):
G01S17/36 ,  G01C3/06 ,  G01S7/48 ,  H01L27/148
FI (4):
G01S17/36 ,  G01C3/06 Z ,  G01S7/48 Z ,  H01L27/14 B
F-Term (32):
2F112AD01 ,  2F112BA09 ,  2F112CA08 ,  2F112DA28 ,  2F112EA03 ,  2F112FA19 ,  2F112FA29 ,  2F112FA45 ,  4M118AB03 ,  4M118BA12 ,  4M118BA13 ,  4M118CA04 ,  4M118DB06 ,  4M118DB08 ,  4M118DB09 ,  4M118DB20 ,  4M118FA13 ,  4M118FA14 ,  4M118FA24 ,  5C024CY17 ,  5C024GX03 ,  5C024GY03 ,  5C024GY04 ,  5C024GY05 ,  5C024GZ03 ,  5C024GZ06 ,  5J084AA05 ,  5J084AD02 ,  5J084BA36 ,  5J084BA40 ,  5J084DA01 ,  5J084EA01
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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