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J-GLOBAL ID:200903093640881686

多次元周波数計測方法並びに該方法を用いた入射波の周波数及び到来方向計測装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 宮田 金雄 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1995221451
Publication number (International publication number):1997061471
Application date: Aug. 30, 1995
Publication date: Mar. 07, 1997
Summary:
【要約】【課題】 演算量が少なく、高分解能な多次元周波数計測方法並びに該方法を用いた入射波の周波数及び到来方向計測装置を得ることを課題としている。【解決手段】 この発明の多次元周波数計測方法は、多次元信号から1次元信号を抽出し、抽出された1次元信号から1次元スペクトルを推定し、推定された1次元スペクトルからピークを検出して1次元信号の周波数を推定し、推定された1次元周波数から多次元周波数の正しい組み合わせを推定する処理ステップを備えて、1次元周波数計測方法を用いて多次元周波数を計測するので、多次元周波数を直接計測するより演算量は少なくて済み、高分解能な多次元周波数計測方法を得ることができる。
Claim (excerpt):
多次元信号から1次元信号を抽出する1次元信号抽出処理ステップと、抽出された1次元信号から1次元スペクトルを推定する1次元スペクトル推定処理ステップと、推定された1次元スペクトルからピークを検出し1次元信号の周波数を推定する1次元周波数推定処理ステップと、推定された1次元周波数から多次元周波数の正しい組み合わせを推定する組み合わせ推定処理ステップと、を備えることを特徴とする多次元周波数計測方法。
IPC (2):
G01R 23/02 ,  G01S 3/14
FI (2):
G01R 23/02 ,  G01S 3/14
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
  • 特開昭63-186176

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