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J-GLOBAL ID：200903093728805378
ポリオレフィン層中の異物検出方法
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
須山 佐一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995063967
Publication number (International publication number)：1996261961
Application date： Mar. 23, 1995
Publication date： Oct. 11, 1996
Summary：
【要約】【目的】 ポリオレフィン絶縁ケーブルの絶縁層や半導電層のようなポリオレフィン層中の異物を、極めて微小なものまで精度良く検出する方法を提供する。【構成】 CVケーブルの絶縁層から切出された架橋ポリエチレン試料を、NMRマイクロイメージシステムの検出部に収納し、これを60°C以上の温度に保持し10〜25mT/mの磁場勾配を加えてそのNMR断層画像を測定する。そして、得られた断層画像により試料中の異物を検出する。
Claim (excerpt)：
核磁気共鳴(NMR)測定装置により、ポリオレフィン層に10mT/m以上の磁場勾配を加えてNMRを測定し、その測定結果を画像処理装置により可視化処理し、得られたNMR断層画像を観察して前記ポリオレフィン層中の異物を調べることを特徴とするポリオレフィン層中の異物検出方法。
IPC (2)：
FI (3)：
G01N 24/08 510 P
, G01N 24/06 510 Y
, G01N 24/08 510 S
