Pat

J-GLOBAL ID：200903093763077911

印刷半田検査装置

Inventor： 鈴木 隆 ,  中道 泰久
Applicant, Patent owner： アンリツ株式会社
Agent (1)： 西村 教光 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000200936
Publication number (International publication number)：2002022412
Application date： Jul. 03, 2000
Publication date： Jan. 23, 2002
Summary：

【要約】【課題】 半田の形成状態に応じて印刷部のマスクを最適な時期にクリーニング実行させることができ、プリント基板の品質を維持しつつ製造ラインの稼働効率の向上が図れること。【解決手段】 センサヘッド20は、プリント基板に対向配置されて半田の変位量を検出する。高さ判定手段35は、センサヘッド20で検出された変位量と走査位置によって得られた3次元データに基づき各半田の高さを演算し、予め定めた設定範囲と比較する。高さ判定手段35の判定に基づき、検出高さが設定範囲内であればクリーニング間隔を広げる。一方、検出高さが設定範囲を超えればクリーニング間隔を狭める。この新たなクリーニング時期は、前段の半田印刷装置に出力される。表示処理手段39は、各プリント基板の高さとクリーニング時期を経時的に表示する。

Claim (excerpt)：

前段の半田印刷装置で半田形成された後、搬入された各プリント基板上の半田の形成状態を検査する印刷半田検査装置において、前記プリント基板の製造状態を表示画面上に各プリント基板単位で経時的に表示させ、かつ、前記半田印刷装置の半田印刷部のクリーニング時期を同表示画面上に表示させる表示処理手段を備えたことを特徴とする印刷半田検査装置。

IPC (5)：

G01B 11/02 ,  G01B 11/24 ,  G01N 33/20 ,  H05K 3/34 512 ,  H05K 13/08

FI (6)：

G01B 11/02 H ,  G01N 33/20 P ,  H05K 3/34 512 B ,  H05K 13/08 P ,  G01B 11/24 A ,  G01B 11/24 K

F-Term (20)：

2F065AA24 ,  2F065AA53 ,  2F065CC01 ,  2F065CC26 ,  2F065FF04 ,  2F065GG04 ,  2F065HH04 ,  2F065JJ08 ,  2F065MM03 ,  2F065MM07 ,  2F065PP13 ,  2G055AA05 ,  2G055BA20 ,  2G055CA12 ,  2G055CA13 ,  2G055EA08 ,  2G055FA02 ,  5E319BB05 ,  5E319CD29 ,  5E319CD53