Pat
J-GLOBAL ID:200903093946643266
X線診断装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
杉谷 勉
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004195615
Publication number (International publication number):2006014935
Application date: Jul. 01, 2004
Publication date: Jan. 19, 2006
Summary:
【課題】 可動部が障害物との衝突を回避しつつ、速やかに可動部が移動するX線診断装置を提供する。【解決手段】 X線透視装置において、X線を検出する検出器3と、被検体M、術者、その他の障害物との離隔距離Lmを静電容量型センサー7とセンサー回路8とによって計測する。ここで、検出器3の移動速度vに基づきセンサー回路8の有効測定範囲(レンジ)を変更する。よって、計測される離隔距離Lmは精度がよい。この離隔距離Lmと検出器3の移動速度vとに基づいて、検出器3を制動するように駆動制御部11が駆動部5を操作する。よって、計測される離隔距離Lmの精度がよいので、確実に的確に検出器3と障害物との衝突を回避できる。よって、検出器3が低速で移動しているときに不必要に制動されることや、計測誤差等により誤って制動されることはない。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
被検体にX線を照射してX線撮影を行うX線診断装置において、照射されるX線を検出するX線検出手段と、X線検出手段を駆動する駆動手段と、駆動手段を操作してX線検出手段の移動を制御する制御手段と、X線検出手段と障害物との離隔距離を計測する距離計測手段と、X線検出手段の移動速度に基づいて距離計測手段の有効測定範囲を変更する変更手段とを備え、前記制御手段は、距離計測手段により計測された離隔距離とX線検出手段の移動速度とに基づいてX線検出手段を制動するように制御することを特徴とするX線診断装置。
IPC (3):
A61B 6/10
, A61B 6/00
, G01B 21/16
FI (4):
A61B6/10 350
, A61B6/10 353
, A61B6/00 300X
, G01B21/16
F-Term (15):
2F069AA44
, 2F069BB40
, 2F069GG04
, 2F069GG06
, 2F069GG09
, 2F069GG62
, 2F069HH09
, 2F069MM23
, 2F069MM34
, 4C093AA08
, 4C093CA33
, 4C093CA38
, 4C093EC16
, 4C093EC57
, 4C093EC58
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
Cited by examiner (4)