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J-GLOBAL ID：200903093957851928

X線CT装置及びそのデータ処理方法

Inventor： 右田 晋一
Applicant, Patent owner： 株式会社日立メディコ
Agent (1)： 高崎 芳紘
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995021586
Publication number (International publication number)：1996215187
Application date： Feb. 09, 1995
Publication date： Aug. 27, 1996
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】 各種スライス幅計測でもアーチファクトが少なく良好な画像が得られ且つ高精度な散乱線補正が可能なX線CT装置とそのデータ処理方法を提供する。【構成】 X線CT装置は、チャネル(ch)方向と共にスライス方向にも複数に分割された検出部41、41...から構成された分割型検出器4を備え、これら分割検出部41、41...はそれぞれ検出回路5の増幅器51を介して加算器52へ接続され、6 さらに、画像再構成処理装置6へ接続される。これにより、前記分割検出部41、41...からの計測データを計測条件により選択的に選択し、所定の処理により断層画像を再構成する。【効果】 スライス方向に隣り合うX線ビームが直接当たらない検出部で散乱線を測定して散乱線補正することにより、高精度な散乱線補正が可能となる。

Claim (excerpt)：

X線源からのX線を所定のスライス幅でチャネル(ch)方向に放射し、被検体を透過した当該X線をch方向に配置した検出器により検出し、当該検出器で検出した検出信号により前記被検体の断層画像を形成するX線CT装置であって、当該検出器は、ch方向に複数に分割された検出部から構成されると共に、各ch方向の検出部は、さらに、スライス方向に複数に分割された検出部から構成され、これらスライス方向に複数に分割された検出部の集合体が1chの最小単位検出器を構成する検出器構造を持ち、もって、1回の計測で複数の幅のスライス計測が可能であるものにおいて、さらに、前記1chの最小単位検出器を構成する複数のスライス方向に分割された検出部からのデータに補正処理を行う検出回路と、前記検出回路により補正処理されたデータにより、前記1chの最小単位検出器を構成する複数の分割された各検出部の計測によるスライス幅と同等、あるいは、それより厚いスライス画像を再構成する画像再構成処理装置とを備えたことを特徴とするX線CT装置。

IPC (2)：

A61B 6/03 320 ,  A61B 6/03 350

FI (2)：

A61B 6/03 320 Y ,  A61B 6/03 350 K