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J-GLOBAL ID：200903093989438798

粒子検出方法

Inventor： 西尾 佳高 ,  藤田 政行 ,  柴田 賢一
Applicant, Patent owner： 三洋電機株式会社
Agent (1)： 岡田 敬
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995304356
Publication number (International publication number)：1997145595
Application date： Nov. 22, 1995
Publication date： Jun. 06, 1997
Summary：

【要約】【課題】 異なる所望の粒子径の粒子を簡単な受光手段で検出できる粒子検出方法を提供することを目的とする。【解決手段】 粒子に光を照射して生じた回折光を同心円で囲まれる領域に光取出部7aが設けられた遮蔽部材からなる光取出手段7を介することにより、所望粒子径を有する粒子による回折光を選択的に取り出す粒子検出方法であって、光取出手段7が可動可能であり、光取出手段7を可動せしめることにより検出しようとする所望粒子径の粒子の該所望粒子径が変更可能である。

Claim (excerpt)：

粒子に光を照射して生じた回折光を同心円で囲まれる領域に光取出部が設けられた遮蔽部材からなる光取出手段を介することにより、所望粒子径を有する粒子による回折光を選択的に取り出す粒子検出方法であって、前記光取出手段が可動可能であり、該光取出手段を可動せしめることにより検出しようとする所望粒子径の粒子の該所望粒子径を変更可能であることを特徴とする粒子検出方法。

IPC (3)：

G01N 15/14 ,  G01N 21/35 ,  G01N 21/47

FI (3)：

G01N 15/14 K ,  G01N 21/35 Z ,  G01N 21/47 A