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J-GLOBAL ID：200903094000530425

落射蛍光顕微鏡

Inventor： 長野 隆 ,  清水 敬之 ,  川崎 健司 ,  倉田 清宣 ,  島田 征和
Applicant, Patent owner： オリンパス光学工業株式会社
Agent (1)： 鈴江 武彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995338963
Publication number (International publication number)：1997179034
Application date： Dec. 26, 1995
Publication date： Jul. 11, 1997
Summary：

【要約】【課題】効率の高い微分干渉観察と落射蛍光観察の同時観察を可能にするとともに、コントラストの高い蛍光像を得ることができる落射蛍光顕微鏡を提供すること。【解決手段】透過照明光学系に設けられ透過光を変調するための第1の光学的変調部材(2)と、標本(6)より対物レンズ(7)側の観察光学系に設けられる第2の光学的変調部材(12)とを備えるとともに、前記観察光学系に落射蛍光照明光学系を備えた落射蛍光顕微鏡において、前記第1の光学的変調部材(2)は、蛍光波長よりも長波長側に透過率のピークを有し、前記第2の光学的変調部材(12)は前記第1の光学的変調部材(2)を透過した波長のみを選択的に変調する。

Claim (excerpt)：

透過照明光学系に設けられ透過光を変調するための第1の光学的変調部材と、標本より対物レンズ側の観察光学系に設けられる第2の光学的変調部材とを備えるとともに、前記観察光学系に落射蛍光照明光学系を備えた落射蛍光顕微鏡において、前記第1の光学的変調部材は、蛍光波長よりも長波長側に透過率のピークを有し、前記第2の光学的変調部材は前記第1の光学的変調部材を透過した波長のみを選択的に変調することを特徴とする落射蛍光顕微鏡。