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J-GLOBAL ID:200903094025015690

物体認識装置および映像物体測位装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 田澤 英昭 ,  加藤 公延 ,  濱田 初音
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2006235944
Publication number (International publication number):2008059319
Application date: Aug. 31, 2006
Publication date: Mar. 13, 2008
Summary:
【課題】同一種類の対象物の画像に、撮影時の状況や画像ノイズに起因した見かけ上の違いが存在していても、その対象物を正確に認識可能にする。【解決手段】テンプレート画像格納手段の複数のテンプレート画像のそれぞれについて、複数の画像特徴量をそれぞれ抽出し、抽出した画像特徴量間の相関係数行列を求め、次に画像取得手段で取得したフレーム画像から認識対象とする入力画像を抽出し、当該入力画像について、テンプレート画像と同様に複数の画像特徴量を抽出して画像特徴量間の相関係数行列を求め、求めた入力画像の相関係数行列と複数のテンプレート画像の相関係数行列を比較して入力画像と複数のテンプレート画像間の距離をそれぞれ算出し、算出した距離が最も小さいテンプレート画像の対象物を、入力画像の対象物として認識する画像認識処理手段を備える。【選択図】図1
Claim (excerpt):
映像情報を記憶する映像情報データベースと、 前記映像情報データベースの映像情報から任意のフレーム画像を取得する画像取得手段と、 種類別に対象物に関する複数のテンプレート画像を予め格納するテンプレート画像格納手段と、 前記テンプレート画像格納手段の複数のテンプレート画像のそれぞれについて、複数の画像特徴量をそれぞれ抽出し、抽出した画像特徴量間の相関係数行列を求め、次に前記画像取得手段で取得したフレーム画像から認識対象とする入力画像を抽出し、当該入力画像について、前記テンプレート画像と同様に複数の画像特徴量を抽出して画像特徴量間の相関係数行列を求め、求めた入力画像の相関係数行列と複数のテンプレート画像の相関係数行列を比較して入力画像と複数のテンプレート画像間の距離をそれぞれ算出し、算出した距離が最も小さいテンプレート画像の対象物を、入力画像の対象物として認識する画像認識処理手段とを備えたことを特徴とする物体認識装置。
IPC (6):
G06T 7/00 ,  G06T 1/00 ,  G01C 11/00 ,  G01C 15/00 ,  G09B 29/00 ,  G08G 1/09
FI (6):
G06T7/00 300F ,  G06T1/00 330Z ,  G01C11/00 ,  G01C15/00 102C ,  G09B29/00 A ,  G08G1/09 D
F-Term (52):
2C032HB11 ,  2C032HC08 ,  2C032HC23 ,  2C032HC26 ,  2C032HC27 ,  2F129AA03 ,  2F129BB15 ,  2F129BB50 ,  2F129CC31 ,  2F129EE08 ,  2F129EE41 ,  2F129EE71 ,  2F129GG17 ,  5B057AA16 ,  5B057BA02 ,  5B057CA01 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB01 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CC01 ,  5B057CD01 ,  5B057CD14 ,  5B057DA07 ,  5B057DA16 ,  5B057DB02 ,  5B057DB06 ,  5B057DB09 ,  5B057DC16 ,  5B057DC25 ,  5B057DC34 ,  5H180CC04 ,  5H180EE15 ,  5H180FF27 ,  5H180FF38 ,  5H180FF40 ,  5L096AA02 ,  5L096AA06 ,  5L096BA04 ,  5L096CA02 ,  5L096DA04 ,  5L096FA06 ,  5L096FA34 ,  5L096FA67 ,  5L096FA69 ,  5L096HA09 ,  5L096JA03 ,  5L096JA09 ,  5L096JA11
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2) Cited by examiner (1)
Article cited by the Patent:
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