Pat
J-GLOBAL ID:200903094042297402
超音波診断装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2):
吉田 研二
, 石田 純
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004254757
Publication number (International publication number):2006068245
Application date: Sep. 01, 2004
Publication date: Mar. 16, 2006
Summary:
【課題】3D空間に設定される任意断面の断層画像を形成する場合に外部メモリに対するランダムアクセスを回避する。【解決手段】外部メモリとしてのメモリ14上にはフレーム列が格納され、補間テーブル24上にはフレーム転送順で複数補間データセットが格納されている。フレームペアとそれに対応する補間データセットが任意断層画像形成部22の内部メモリ23上に格納され、コアモジュール32はそれらを用いて補間演算を実行して任意断層画像を構築する。複数の補間データセットは任意断層画像上におけるラスタースキャン方向に並んでいるのではなく、フレーム転送順で並んでいるため、フレーム列及び補間データセットの列を先頭から順番に転送して補間処理を行わせることができる。【選択図】図9
Claim (excerpt):
三次元空間内で取得されたフレーム集合が格納される第1記憶部と、
前記三次元空間に対して設定される切断面上の各画素について、その補間演算で参照される複数の近傍データに与える複数の重み係数を有する補間データを演算する補間データ演算部と、
前記切断面上の画素アレイに対応した補間データ列が格納される第2記憶部と、
前記第1記憶部からフレーム転送順に従って転送されるフレーム集合と、前記第2記憶部から前記フレーム転送順に対応した順序で転送される補間データ列とを用いて、前記フレーム転送順に対応した順序で前記切断面上の各画素についての補間演算を順次進行させて前記切断面に対応した断層画像を形成する画像形成プロセッサと、
を含むことを特徴とする超音波診断装置。
IPC (4):
A61B 8/00
, G06T 1/00
, G06T 3/00
, G06T 15/00
FI (4):
A61B8/00
, G06T1/00 290D
, G06T3/00 300
, G06T15/00 200
F-Term (28):
4C601BB03
, 4C601EE07
, 4C601EE08
, 4C601JC02
, 4C601JC31
, 4C601JC32
, 4C601JC33
, 4C601KK12
, 4C601LL04
, 5B057AA07
, 5B057BA05
, 5B057CA02
, 5B057CA08
, 5B057CA12
, 5B057CA16
, 5B057CB02
, 5B057CB08
, 5B057CB12
, 5B057CB16
, 5B057CD20
, 5B057CE08
, 5B057DB02
, 5B057DB05
, 5B057DB09
, 5B080CA01
, 5B080DA07
, 5B080FA15
, 5B080GA02
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
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超音波診断装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-167098
Applicant:株式会社東芝
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超音波診断装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-150442
Applicant:アロカ株式会社
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