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J-GLOBAL ID：200903094102315510

埃塵検出装置

Inventor： 長谷川 拓己
Applicant, Patent owner： 日本電気株式会社
Agent (1)： 京本 直樹 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995241562
Publication number (International publication number)：1997089755
Application date： Sep. 20, 1995
Publication date： Apr. 04, 1997
Summary：

【要約】【課題】 塵や埃等の透過性の高い微粒子を検出する。【解決手段】 光15を発生する発光ダイオード10と、光15の照射部分の気流中の埃塵に反射した光を検知するフォトダイオード30と、フォトダイオード30が光を検知する際の背景となる黒紙20と、フォトトランジスタ30で受光した光の量の変化を検出する検出回路40とを有する。

Claim (excerpt)：

空気中の微粒子により屈折された光を受光して微粒子の存在を検知することを特徴とする埃塵検出装置。

IPC (2)：

G01N 15/14 ,  G01N 21/53

FI (2)：

G01N 15/14 P ,  G01N 21/53 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 空気清浄器
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-216238   Applicant：松下電工株式会社
• 特開平2-090037