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J-GLOBAL ID：200903094104302068

粒子線装置における試料物質同定装置

Inventor：
松谷 幸

About 松谷 幸

, 
奥村 豊彦

About 奥村 豊彦


Applicant, Patent owner：
日本電子株式会社

About 日本電子株式会社


Agent (1)： 最上 健治
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999035987
Publication number (International publication number)：2000235008
Application date： Feb. 15, 1999
Publication date： Aug. 29, 2000
Summary：
【要約】【課題】 試料の物質名を自動的に短時間で同定できるようにした粒子線装置における試料物質同定装置を提供する。【解決手段】 粒子線を試料に照射し試料から発生する信号により試料の構成元素の濃度などの分析データを収集するEPMAなどの粒子線装置において、未知試料に対して得られた各試料の元素の濃度に関するデータを入力する手段2と、試料の物質名を検索するために用いる元素名を指定する手段3と、物質名に対して各物質を特徴づける各構成元素の濃度範囲が示されている検索データが収納されているデータベース4と、データ入力手段から入力された試料元素濃度データと、元素指定手段で指定された指定元素名と、データベースに収納されている検索データに基づいて試料の物質名の検索を行い試料の物質名を同定する検索同定手段5とで試料物質同定装置を構成する。
Claim (excerpt)：
粒子線を試料に照射し試料から発生する信号により試料の構成元素、元素の濃度、元素の分布状態などの試料分析データを収集する粒子線装置において、未知試料に対して得られた各試料における元素の濃度に関するデータを入力する手段と、試料の物質名を検索するために使用する元素名を指定する手段と、物質名に対して各物質を特徴づける各構成元素の濃度範囲が示されている検索データが収納されているデータベースと、データ入力手段から入力された試料元素濃度データと、元素名指定手段で指定された元素名と、データベースに収納されている検索データに基づいて試料の物質名の検索を行い試料の物質名を同定する手段とを備えていることを特徴とする試料物質同定装置。
IPC (2)：
G01N 23/225 ,  G01N 23/22
FI (2)：
G01N 23/225 ,  G01N 23/22
F-Term (17)：
2G001AA03 ,  2G001BA05 ,  2G001CA01 ,  2G001GA01 ,  2G001KA01 ,  2G001LA02 ,  2G001LA06 ,  2G001NA03 ,  2G001NA06 ,  2G001NA07 ,  2G001NA08 ,  2G001NA09 ,  2G001NA10 ,  2G001NA11 ,  2G001NA13 ,  2G001NA15 ,  2G001NA17
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)

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