Pat
J-GLOBAL ID：200903094150535859
飛行時間型質量分析装置
Inventor：
,
,
,
Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003182468
Publication number (International publication number)：2005019209
Application date： Jun. 26, 2003
Publication date： Jan. 20, 2005
Summary：
【課題】ガスクロマトグラフ装置から大量に導入され、イオン源で大量にイオン化される、キャリアガス由来のイオンの多くを、イオン溜の手前でカットすることのできる飛行時間型質量分析装置を提供する。【解決手段】電子衝撃イオン源は、発生したイオンの一部を、イオン溜の中心軸方向から偏向させるソースマグネットを備え、電子衝撃イオン源の後段には、ソースマグネットによるイオンの偏向を更に助長する静電レンズと、偏向されたイオンを遮断する差動排気スリットとを備えた。【選択図】 図3
Claim (excerpt)：
試料ガスのイオン化効率を高めるソースマグネットを備えた電子衝撃イオン源と、
電子衝撃イオン源で発生したイオンを滞在させるイオン溜と、
イオン溜からイオンをパルス的に加速して取り出すために、該イオン溜を挟んで対向配置されるイオン押し出しプレートおよびグリッドと、
グリッドを介してイオン溜から取り出されたイオンを質量分離する飛行時間型分光部と、
質量分離されたイオンを検出するイオン検出器とを備えた飛行時間型質量分析装置において、
前記電子衝撃イオン源とイオン溜との間に、
電子衝撃イオン源からイオン溜へと進行するイオンがソースマグネットの磁場により受ける偏向方向と、同じ方向にイオンを偏向し得る第1の偏向手段と、
偏向されたイオンを遮断するために、第1の偏向手段とイオン溜との間に配置される遮断手段とを備えたことを特徴とする飛行時間型質量分析装置。
IPC (4)：
H01J49/40
, G01N27/62
, G01N27/64
, H01J49/06
H01J49/40
, G01N27/62 C
, G01N27/62 K
, G01N27/64 C
, H01J49/06
5C038FF01
, 5C038FF07
, 5C038FF11
, 5C038GG01
, 5C038GH13
