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J-GLOBAL ID：200903094161348880

LCRメータ

Inventor： 清水 一樹 ,  山口 力
Applicant, Patent owner： 日置電機株式会社
Agent (1)： 大原 拓也
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996073159
Publication number (International publication number)：1997243684
Application date： Mar. 04, 1996
Publication date： Sep. 19, 1997
Summary：

【要約】【課題】 素子定数測定モードに先立つショート/オープン補正モードにおいて、その補正値の有効、無効と併せて同補正値自体の実際の値をも知ることができるようにする。【解決手段】 被測定試料Xより一対の測定リード11,11を介して得られる被測定信号をA/D変換して取り込む測定データ検出回路12と、その測定データに所定の演算を施して被測定試料の所定のパラメータ値などを算出する制御手段としてのCPU13と、そのパラメータ値などを表示するディスプレイ17とを含み、かつ、素子定数測定モードのほかにショート/オープン補正モードを備えたLCRメータにおいて、ショート/オープン補正モード時、CPU13は、一対の測定リード11,11間を短絡もしくは開放した状態で、検出回路12を介して取り込まれた補正値と、あらかじめ設定されている比較判定用の基準値とを比較し、ディスプレイ17に補正値の有効、無効のメッセージとともに、その補正値自体を併せて表示する。

Claim (excerpt)：

被測定試料より一対の測定リードを介して得られる被測定信号をA/D変換して取り込む測定データ検出回路と、その測定データに所定の演算を施して上記被測定試料のパラメータ値などを算出する制御手段としてのCPUと、上記パラメータ値などを表示するディスプレイとを含み、かつ、素子定数測定モードのほかにショート/オープン補正モードを備えたLCRメータにおいて、ショート/オープン補正モード時、上記CPUは、上記一対の測定リード間を短絡もしくは開放した状態で上記検出回路を介して取り込まれた補正値と、あらかじめ設定されている比較判定用の基準値とを比較し、上記ディスプレイに上記補正値の有効、無効のメッセージとともに、その補正値自体を併せて表示するようにしたことを特徴とするLCRメータ。