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J-GLOBAL ID：200903094163807521

印刷物検査装置

Inventor： 西田 真史 ,  佐藤 博
Applicant, Patent owner： 大日本印刷株式会社
Agent (1)： 高矢 諭 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995241911
Publication number (International publication number)：1997076470
Application date： Sep. 20, 1995
Publication date： Mar. 25, 1997
Summary：

【要約】【課題】 印刷物検査において、1画像中に存在する複数の欠陥部位を個々に独立して欠陥判定し、安定した欠陥検査を可能とする。【解決手段】 欠陥候補画像に対して、所定の矩形領域と、画像の所定のレベル差を設定する手段と、前記所定のレベル差以上の画素数を計測する手段を備え、前記所定の矩形領域を欠陥判定の処理単位として、該矩形領域内で前記所定のレベル差以上の画素数が所定画素数を越えると、欠陥が存在すると判定する。

Claim (excerpt)：

走行中の印刷物表面状態を光学的に監視して、取り込んだ検査画像を基準画像と比較し検査する印刷物検査装置において、欠陥の候補となる画素を含む欠陥候補画像を蓄える欠陥候補画像メモリと、前記欠陥候補画像に対して、欠陥判定の処理単位としての所定の矩形領域と、該矩形領域内での画像の所定のレベル差を設定する設定手段と、前記所定の矩形領域内で、前記所定のレベル差以上の画素数を計測し、格納する計測格納手段と、前記画素数が、所定画素数を越えた場合に欠陥と判定する判定手段と、を備えたことを特徴とする印刷物検査装置。

IPC (2)：

B41F 33/14 ,  G01N 21/89

FI (2)：

B41F 33/14 G ,  G01N 21/89 A

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 印刷装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-354180   Applicant：株式会社東芝
• 特開昭59-073758
  
• 画像認識装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-184856   Applicant：オムロン株式会社
• 特開昭59-073758